Vaisala新露點探頭強化乾燥室控濕

芬蘭測量技術公司Vaisala於5月底推出全新DMP 1露點與溫度測量探頭，專為鋰電池等高要求乾燥室應用設計，測量範圍可達-70°C，反應速度遠優於傳統技術，有助於即時控制濕度變化，確保產品品質與生產安全。DMP 1探頭具備高度穩定性與低維護需求，能承受突發濕氣衝擊，並可無縫整合至中央監控系統。其模組化設計可與Vaisala Indigo系列裝置連接，便於數據讀取與維修，大幅提升乾燥室環境檢測的即時性與效率。